设备名称：场发射扫描电镜

品牌型号：JSM-7610F Plus

联系人

姓名：罗鑫圣 电话:18846819265

邮箱：luoxinsheng22@sdjzu.edu.cn

设备主要

技术参数

1.二次电子分辨率：0.8nm (15kV)，1.0nm(1kV)

2.加速电压: 0.1 - 30KV 连续可调

3.束流范围：1pA～200nA 连续可调

4.放大倍率：25X –1000000X

5.能谱仪探测器：硅漂移探头面积60mm2，元素分析范围Be4-Cf98，

6.能量分辨率：Mn Ka 优于129eV

服务领域及用途

主要用于各种样本表面微观形貌的高分辨观察，及微区成分分析。适用于金属材料、半导体材料、有机/无机材料，生物材料的表面微观形貌分析，结合能谱仪可对材料的微区成分进行分析。附件：电制冷X 射线能谱仪、离子溅射仪。

应用示例

1.多孔材料（活性炭、分子筛、阳极氧化铝等）表面孔道形貌分析；2.薄膜材料表面形貌分析；3.金属材料表面形貌岑溪；4.纳米材料微观形貌分析。

设备图片